IEC60529標準外殼IP防護試驗探棒用于檢測電氣設(shè)備外殼的防護等級，通過模擬人體部位或外物，檢驗外殼對人體觸及危險部件的防護能力以及對固體異物進入的阻擋能力。常見的試驗探棒如下：

? A型試驗探棒：又稱試驗探球，直徑50mm，用于防止手背觸及的防護檢驗，主要用于IP防護等級測試的第一位特征數(shù)字1及附加字母A項目的測試。試驗時，不帶推力的試驗鋼球需配合推拉力計使用，對防護層施加50±5N推力。

? B型試驗探棒：標準試驗指，由指頭、指中、指座、絕緣手柄組成，有兩個活動關(guān)節(jié)，能在90°內(nèi)彎曲。用于防止手指觸及或防觸電的防護檢驗，主要用于IP防護等級測試的第一位特征數(shù)字2項目的測試。試驗時需帶10±1N推力。

? C型試驗探棒：探棒直徑2.5mm，檔球直徑35mm，用于模擬工具，主要用于IP防護等級測試的第一位特征數(shù)字3及附加字母C項目的測試。試驗時需帶3±0.3N推力。

? D型試驗探棒：用于模擬手持金屬絲，主要用于IP防護等級測試的第一位特征數(shù)字4、5、6及附加字母D項目的測試。試驗時需帶1±0.1N推力。